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著者 (2件)：
資料名：
巻： 59 号： 6 ページ： 867-872 発行年： 1988年06月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902031899303380
整理番号：88A0533733
走査型微分偏光顕微鏡 その線形および円形微分散乱の結像のための使用
Scanning differential polarization microscope: Its use to image linear and circular differential scattering.
MICKOLS W
(Univ. California, CA, USA)
,
MAESTRE M F
(Univ. California, CA, USA)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 59 号： 6 ページ： 867-872 発行年： 1988年06月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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