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著者 (1件)：
資料名：
巻： 1981 ページ： 217-220 発行年： 1981年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902032599740610
整理番号：82A0287352
CMOSは最も試験が容易である
CMOS is most testable.
LEVI M W
(Rome Air Development Center, NY)
資料名：
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻： 1981 ページ： 217-220 発行年： 1981年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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