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資料名：
巻： 52 号： 9 ページ： 759-762 発行年： 1984年02月27日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902032701944888
整理番号：84A0450638
液晶の表面からのX線の反射率 表面構造および臨界ゆらぎの絶対値
X-ray reflectivity from the surface of a liquid crystal: Surface structure and absolute value of critical fluctuations.
PERSHAN P S
(Harvard Univ., Massachusetts)
,
ALS-NIELSEN J
(Riso National Lab., Denmark)
資料名：
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻： 52 号： 9 ページ： 759-762 発行年： 1984年02月27日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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