文献
J-GLOBAL ID:200902034269126640
整理番号:92A0277167
シリコン酸化中における界面伝搬の動的観察
Dynamic Observations of Interface Propagation during Silicon Oxidation.
著者 (2件):
ROSS F M
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
GIBSON J M
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
68
号:
11
ページ:
1782-1785
発行年:
1992年03月16日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)