文献
J-GLOBAL ID:200902036579986006
整理番号:93A0332176
SEU耐性256K SOISRAM
An SEU Resistant 256K SOI SRAM.
著者 (5件):
HITE L R
(Texas Instruments Inc., TX)
,
LU H
(Texas Instruments Inc., TX)
,
HOUSTON T W
(Texas Instruments Inc., TX)
,
HURTA D S
(Texas Instruments Inc., TX)
,
BAILEY W E
(Texas Instruments Inc., TX)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
39
号:
6 Pt 1
ページ:
2121-2125
発行年:
1992年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)