文献
J-GLOBAL ID:200902043557748663
整理番号:90A0765001
SF6中におけるSiの低温反応性イオンエッチング
Cryogenic reactive ion etching of silicon in SF6.
著者 (3件):
BESTWICK T D
(IBM Research Division, New York)
,
OEHRLEIN G S
(IBM Research Division, New York)
,
ANGELL D
(IBM Research Division, New York)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
57
号:
5
ページ:
431-433
発行年:
1990年07月30日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)