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資料名：
巻： 275 号： 2 ページ： 462-464 発行年： 1989年02月15日
JST資料番号： D0208B ISSN： 0168-9002 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902045299003278
整理番号：89A0198597
Photon Factoryにおける格子/結晶モノクロメータを備えた固体表面分析用ビームライン
Solid surface analysis beamline with a grating/crystal monochromator at the photon factory.
KAWAMURA T
(NTT Applied Electronics Lab., Tokyo, JPN)
,
MAEYAMA S
(NTT Applied Electronics Lab., Tokyo, JPN)
,
OSHIMA M
(NTT Applied Electronics Lab., Tokyo, JPN)
,
ISHII Y
(NTT Applied Electronics Lab., Tokyo, JPN)
,
MIYAHARA T
(National Lab. High Energy Physics, Ibaraki, JPN)
資料名：
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 275 号： 2 ページ： 462-464 発行年： 1989年02月15日
JST資料番号： D0208B ISSN： 0168-9002 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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