文献
J-GLOBAL ID:200902049342210822
整理番号:91A0261081
Qの高いカンチレバーを用いる周波数変調検出による力顕微鏡の感度向上
Frequency modulation detection using high-Q cantilevers for enhanced force microscope sensitivity.
著者 (4件):
ALBRECHT T R
(IBM Research Division, California)
,
GRUETTER P
(IBM Research Division, California)
,
HORNE D
(IBM Research Division, California)
,
RUGAR D
(IBM Research Division, California)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
69
号:
2
ページ:
668-673
発行年:
1991年01月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)