文献
J-GLOBAL ID:200902052650398205
整理番号:86A0266849
Czochralski法Si中の酸素析出に関する窒素の効果
Nitrogen effect on oxygen precipitation in Czochralski silicon.
著者 (2件):
SHIMURA F
(Monsanto Electronic Materials Co., Missouri)
,
HOCKETT R S
(Monsanto Electronic Materials Co., Missouri)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
48
号:
3
ページ:
224-226
発行年:
1986年01月20日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)