文献
J-GLOBAL ID:200902056168391185
整理番号:90A0236984
0.1μmのゲートを持つSi結合の超伝導性電界効果トランジスタの作製とその特性評価
Fabrication and characterization of Si-coupled superconducting field effect transistors with 0.1μm gate.
著者 (6件):
HATANO M
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
MURAI F
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
NISHINO T
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
HASEGAWA H
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
KURE T
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
KAWABE U
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻:
7
号:
6
ページ:
1333-1337
発行年:
1989年11月
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
1071-1023
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)