文献
J-GLOBAL ID:200902056328346068
整理番号:91A0110877
MOSFETの実効チャネル長の測定
Measuring the effective channel length of MOSFETs.
著者 (2件):
NG K K
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
BREWS J R
(Univ. Arizona, Arizona)
資料名:
IEEE Circuits & Devices Magazine
(IEEE Circuits & Devices Magazine)
巻:
6
号:
6
ページ:
33-38
発行年:
1990年11月
JST資料番号:
A0660B
ISSN:
8755-3996
CODEN:
ICSYDV
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)