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著者 (2件)：
資料名：
巻： 11 号： 8 ページ： 339-341 発行年： 1990年08月
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902063944612622
整理番号：90A0655218
3準位電荷ポンピングによる界面トラップ捕獲断面積の求め方
Determination of interface trap capture cross sections using three-level charge pumping.
SAKS N S
(Naval Research Lab., Washington, D.C.)
,
ANCONA M G
(Naval Research Lab., Washington, D.C.)
資料名：
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻： 11 号： 8 ページ： 339-341 発行年： 1990年08月
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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