文献
J-GLOBAL ID:200902067502137785
整理番号:86A0245124
乾燥酸素中のシリコン酸化の際の点欠陥生成 I 理論
Point-defect generation during oxidation of silicon in dry oxygen. I Theory.
著者 (2件):
DUNHAM S T
(Stanford Univ., California)
,
PLUMMER J D
(Stanford Univ., California)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
59
号:
7
ページ:
2541-2550
発行年:
1986年04月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)