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著者 (9件)：
資料名：
巻： 34 ページ： 110-111 発行年： 1991年02月
JST資料番号： D0753A ISSN： 0193-6530 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902068758154381
整理番号：91A0688036
マッチライン・テストアーキテクチャを結合した45ns 64Mb DRAM
A 45ns 64Mb DRAM with a Merged Match-line Test Architecture.
MORI S
(Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
,
MIYAMOTO H
(Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
,
MOROOKA Y
(Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
,
KIKUDA S
(Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
,
SUWA M
(Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
,
KINOSHITA M
(Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
,
HACHISUKA A
(Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
,
ARIMA H
(Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
,
KAYANO S
(Mitsubishi Electric Corp., Itami, JPN)
資料名：
Digest of Technical Papers. IEEE International Solid-State Circuits Conference
(Digest of Technical Papers. IEEE International Solid-State Circuits Conference)
巻： 34 ページ： 110-111 発行年： 1991年02月
JST資料番号： D0753A ISSN： 0193-6530 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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