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著者 (7件)：
資料名：
巻： 52 号： 3 ページ： 228-231 発行年： 1984年01月16日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902072655570929
整理番号：84A0284278
サブミクロンSi反転層における離散的抵抗スイッチング 個々の界面トラップと低周波(1/f?)雑音
Discrete resistance switching in submicrometer silicon inversion layers: Individual interface traps and low-frequency (1/f?) noise.
RALLS K S
(Bell Lab., New Jersey)
,
SKOCPOL W J
(Bell Lab., New Jersey)
,
JACKEL L D
(Bell Lab., New Jersey)
,
HOWARD R E
(Bell Lab., New Jersey)
,
FETTER L A
(Bell Lab., New Jersey)
,
EPWORTH R W
(Bell Lab., New Jersey)
,
TENNANT D M
(Bell Lab., New Jersey)
資料名：
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻： 52 号： 3 ページ： 228-231 発行年： 1984年01月16日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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