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資料名：
巻： 60 号： 20 ページ： 2484-2486 発行年： 1992年05月18日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902078158721601
整理番号：92A0434212
せん断力と近視野走査を組合せた光学顕微鏡観察
Combined shear force and near-field scanning optical microscopy.
BETZIG E
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
FINN P L
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
WEINER J S
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 60 号： 20 ページ： 2484-2486 発行年： 1992年05月18日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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