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文献
J-GLOBAL ID:200902081407439149   整理番号:90A0892503

電荷結合素子技術の進展 サブエレクトロン雑音と4096×4096画素のCCD

New advancements in charge-coupled device technology-sub-electron noise and 4096×4096 pixel CCDs.
著者 (7件):
JANESICK J
(Jet Propulsion Lab., CA)
ELLIOTT T
(Jet Propulsion Lab., CA)
DINGIZIAN A
(Jet Propulsion Lab., CA)
BREDTHAUER R
(Ford Aerospace Corp., CA)
CHANDLER C
(Ford Aerospace Corp., CA)
WESTPHAL J
(California Inst. Technology, CA)
GUNN J
(Princeton Univ., NJ)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 1242  ページ: 223-237  発行年: 1990年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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