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著者 (2件)：
資料名：
ページ： 322-327 発行年： 1989年
JST資料番号： K19901004 資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902085150442696
整理番号：91A0125375
A wideband current injection probe for electromagnetic immunity test of automotive electronic equipments.
TERATANI T
(Toyota Motor Corp., Aichi, JPN)
,
KODERA M
(Nippon Soken Inc., Aichi, JPN)
資料名：
1989 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Vol.1
(1989 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Vol.1)
ページ： 322-327 発行年： 1989年
JST資料番号： K19901004 資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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