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資料名：
巻： 63 号： 4 ページ： 1182-1190 発行年： 1988年02月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902085692935257
整理番号：88A0536353
一次元位置鋭敏検出器を用いたPd2Si形成の動力学のX線回折によるその場測定
In situ x-ray diffraction measurement of Pd2Si transformation kinetics using a linear position-sensitive detector.
LITTLE T W
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
,
CHEN H
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 63 号： 4 ページ： 1182-1190 発行年： 1988年02月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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