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著者 (5件)：
資料名：
巻： 243 号： 4891 ページ： 641-643 発行年： 1989年02月03日
JST資料番号： E0078A ISSN： 0036-8075 CODEN： SCIEA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902090719122168
整理番号：89A0279118
走査イオン伝導顕微鏡
The scanning ion-conductance microscope.
HANSMA P K
(Univ. California, CA, USA)
,
DRAKE B
(Univ. California, CA, USA)
,
MARTI O
(Univ. California, CA, USA)
,
GOULD S A C
(Univ. California, CA, USA)
,
PRATER C B
(Univ. California, CA, USA)
資料名：
Science
(Science)
巻： 243 号： 4891 ページ： 641-643 発行年： 1989年02月03日
JST資料番号： E0078A ISSN： 0036-8075 CODEN： SCIEA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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