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文献
J-GLOBAL ID:200902093142940191   整理番号:86A0259647

粉末X線回折図形のRietveld解析とシミュレーション

Rietveld analysis and simulation of X-ray powder diffraction patterns.
著者 (1件):
泉富士夫
(無機材質研)

資料名:
X線分析の進歩  (X線工業分析)

巻: 14  ページ: 43-56  発行年: 1983年04月 
JST資料番号: Z0547B  ISSN: 0911-7806  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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