文献
J-GLOBAL ID:200902095379608178
整理番号:85A0375668
Cameca社製のIMS-3f型イオン顕微鏡用低温試料台
Cryogenic sample stage for the Cameca IMS-3fion microscope.
著者 (3件):
BERNIUS M T
(Cornell Univ., New York)
,
CHANDRA S
(Cornell Univ., New York)
,
MORRISON G H
(Cornell Univ., New York)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
56
号:
7
ページ:
1347-1351
発行年:
1985年07月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)