文献
J-GLOBAL ID:200902097596386305
整理番号:91A0608845
分子線エピタクシー成長(Al)GaAs多層膜の断面に対するトンネル顕微鏡と分光法
Tunneling microscopy and spectroscopy on cross sections of molecularbeam-epitaxy-grown (Al)GaAs multilayers.
著者 (2件):
SALEMINK H
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
,
ALBREKTSEN O
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻:
9
号:
2 Pt 2
ページ:
779-782
発行年:
1991年03月
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
1071-1023
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)