文献
J-GLOBAL ID:200902099989120610
整理番号:86A0537379
エピタキシャル立方晶系SiC膜における不純物補償
Compensation in epitaxial cubic SiC films.
著者 (4件):
SEGALL B
(Case Western Reserve Univ., Ohio)
,
ALTEROVITZ S A
(Lewis Research Center National Aeronautics and Space Administration, Ohio)
,
HAUGLAND E J
(Lewis Research Center National Aeronautics and Space Administration, Ohio)
,
MATUS L G
(Lewis Research Center National Aeronautics and Space Administration, Ohio)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
49
号:
10
ページ:
584-586
発行年:
1986年09月08日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)