文献
J-GLOBAL ID:200902100139143171
整理番号:99A0567065
超音波AFMによる材料の定量的キャラクタリゼーション
Quantitative Material Characterization by Ultrasonic AFM.
著者 (5件):
YAMANAKA K
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
NOGUCHI A
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
TSUJI T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
KOIKE T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
GOTO T
(Mitsubishi Heavy Industry Ltd., Yokohama, JPN)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
27
号:
5/6
ページ:
600-606
発行年:
1999年05月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)