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資料名：
巻： 89 号： 9 ページ： 5177-5182 発行年： 2001年05月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902101072692597
整理番号：01A0620396
タングステン表面における電界刺激エクゾ電子放出位置の電界イオン顕微鏡法による直接観測
Direct observation of the field-stimulated exoemission sites at tungsten surfaces using field ion microscopy.
SHIOTA T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
UMENO M
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
DOHKUNI K
(Kobe Univ., Hyogo, JPN)
,
TAGAWA M
(Kobe Univ., Hyogo, JPN)
,
OHMAE N
(Kobe Univ., Hyogo, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 89 号： 9 ページ： 5177-5182 発行年： 2001年05月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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