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著者 (2件)：
資料名：
巻： 35 号： 5,Pt.2 ページ： 3832-3834 発行年： 1999年09月
JST資料番号： A0339B ISSN： 0018-9464 CODEN： IEMGAQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902102116782072
整理番号：00A0015722
ナノ圧痕系を用いた薄膜の磁気ひずみの正確な測定
An accurate measurement of magnetostriction of thin films by using nano-indentation system.
SHIMA T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
FUJIMORI H
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Magnetics
(IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 35 号： 5,Pt.2 ページ： 3832-3834 発行年： 1999年09月
JST資料番号： A0339B ISSN： 0018-9464 CODEN： IEMGAQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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