文献
J-GLOBAL ID:200902102847579217
整理番号:00A0283131
深紫外線リソグラフィーのための化学増幅を用いた表面をシリル化した単一層レジスト I 気相からのSi化合物の限定された浸透
A Surface-Silylated Single-Layer Resist Using Chemical Amplification for Deep-Ultraviolet Lithography. I. Limited Permeation of Si Compounds from Vapor Phase.
著者 (5件):
SUGITA K
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
IKAGAWA M
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
HARADA K
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
KUSHIDA M
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
SAITO K
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
39
号:
2A
ページ:
669-674
発行年:
2000年02月15日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)