文献
J-GLOBAL ID:200902103020600557
整理番号:99A0419970
チップ内変動解析
Within-Chip Variability Analysis.
著者 (1件):
NASSIF S R
(IBM Austin Res. Lab., TX, USA)
資料名:
Technical Digest. International Electron Devices Meeting
(Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻:
1998
ページ:
283-286
発行年:
1998年
JST資料番号:
C0829B
ISSN:
0163-1918
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)