文献
J-GLOBAL ID:200902104680607429
整理番号:96A0555497
自己律速機構による窒化シリコンの原子層制御蒸着
Atomic layer controlled deposition of silicon nitride with self-limiting mechanism.
著者 (3件):
GOTO H
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
SHIBAHARA K
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
YOKOYAMA S
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
68
号:
23
ページ:
3257-3259
発行年:
1996年06月03日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)