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著者 (5件)：
資料名：
巻： 35 号： 6B ページ： 3743-3748 発行年： 1996年06月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902105401070832
整理番号：96A0668964
III-V化合物半導体ナノ構造の走査型トンネル顕微鏡/走査型トンネル分光観察
Scanning Tunneling Microscopy/Scanning Tunneling Spectroscopy Observation of III-V Compound Semiconductor Nanostructures.
NOH J-H
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
ASAHI H
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KIM S-J
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TAKEMOTO M
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
GONDA S
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 35 号： 6B ページ： 3743-3748 発行年： 1996年06月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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