文献
J-GLOBAL ID:200902105555565001
整理番号:98A0556274
よう素修飾Pt(100)電極上のポルフィリン吸着層のその場走査トンネル顕微鏡観察
In Situ Scanning Tunneling Microscopy Observation of a Porphyrin Adlayer on an Iodine-Modified Pt(100) Electrode.
著者 (4件):
SASHIKATA K
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SUGATA T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SUGIMASA M
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
ITAYA K
(ERATO/JST, Sendai, JPN)
資料名:
Langmuir
(Langmuir)
巻:
14
号:
10
ページ:
2896-2902
発行年:
1998年05月12日
JST資料番号:
A0231B
ISSN:
0743-7463
CODEN:
LANGD5
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)