文献
J-GLOBAL ID:200902105948158262
整理番号:01A0858668
単一粒界測定法によって研究したZnO:Prバリスタ中の粒界の界面電子状態
Electronic interface states at grain boundaries in ZnO:Pr varistors by single grain boundary measurements.
著者 (3件):
MUKAE K
(Fuji Electric Corporate Res. and Dev., Ltd., Kanagawa, JPN)
,
OHI A
(Fuji Electric Corporate Res. and Dev., Ltd., Kanagawa, JPN)
,
TANAKA A
(Iiyama Fuji Co., Ltd., Yokosuka, JPN)
資料名:
Journal of the European Ceramic Society
(Journal of the European Ceramic Society)
巻:
21
号:
10/11
ページ:
1871-1874
発行年:
2001年
JST資料番号:
E0801B
ISSN:
0955-2219
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)