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資料名：
巻： 64 号： 21 ページ： 2894-2896 発行年： 1994年05月23日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902107554751440
整理番号：94A0540272
走査型力顕微鏡のカンチレバーの熱的または環境によって誘発されたたわみ
Thermal and ambient-induced deflections of scanning force microscope cantilevers.
THUNDAT T
(Oak Ridge National Lab., Tennessee)
,
WARMACK R J
(Oak Ridge National Lab., Tennessee)
,
CHEN G Y
(Oak Ridge National Lab., Tennessee)
,
ALLISON D P
(Oak Ridge National Lab., Tennessee)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 64 号： 21 ページ： 2894-2896 発行年： 1994年05月23日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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