文献
J-GLOBAL ID:200902107741074770
整理番号:98A0793916
転位密度の低いGaN基板によるGaN系LD構造のpn接合特性の高精度制御
Precise control of pn-junction profiles for GaN-based LD structures using GaN substrates with low dislocation densities.
著者 (5件):
KURODA N
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
SASAOKA C
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
KIMURA A
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
USUI A
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
,
MOCHIZUKI Y
(NEC Corp., Ibaraki, JPN)
資料名:
Journal of Crystal Growth
(Journal of Crystal Growth)
巻:
189/190
ページ:
551-555
発行年:
1998年06月
JST資料番号:
B0942A
ISSN:
0022-0248
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)