文献
J-GLOBAL ID:200902108098779660
整理番号:01A1076187
再構成Si表面近傍での歪の定量的評価
Quantitative evaluation of strain near reconstructed Si surfaces.
著者 (4件):
EMOTO T
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
AKIMOTO K
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
ISHIKAWA Y
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
ICHIMIYA A
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名:
Surface Science
(Surface Science)
巻:
493
号:
1/3
ページ:
221-226
発行年:
2001年11月01日
JST資料番号:
C0129B
ISSN:
0039-6028
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)