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文献
J-GLOBAL ID:200902108557796859   整理番号:99A1040645

光学式仮想Vブロック方式による真円度評価システムの開発 (第1報) 測定原理と測定限界のシミュレーション結果

Development of Roundness Measurement System by Optical V-block Method. (1st Report). Measuring Principle and Simulation Results of Measurement Limit.
著者 (4件):
横田篤也
(長岡技科大 大学院)
山田隆一
(長岡工高専)
柳和久
(長岡技科大 工)
坂井誠
(東京精密)

資料名:
精密工学会誌  (Journal of the Japan Society for Precision Engineering)

巻: 65  号: 11  ページ: 1663-1667  発行年: 1999年11月05日 
JST資料番号: F0268A  ISSN: 0912-0289  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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