文献
J-GLOBAL ID:200902109142134199
整理番号:01A0362020
機能的にテスト可能なマイクロプロセッサのデータパス遅延故障
Functionally Testable Path Delay Faults on a Microprocessor.
著者 (3件):
LAI W-C
(Univ. California, Santa Barbara)
,
KRSTIC A
(Univ. California, Santa Barbara)
,
CHENG K-T
(Univ. California, Santa Barbara)
資料名:
IEEE Design & Test of Computers
(IEEE Design & Test of Computers)
巻:
17
号:
4
ページ:
6-14
発行年:
2000年10月
JST資料番号:
B0007C
ISSN:
0740-7475
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)