文献
J-GLOBAL ID:200902109472177595
整理番号:02A0825969
明日のメモリ
Memories of Tomorrow.
著者 (9件):
REOHR W
(IBM T.J. Watson Res. Center in Yorktown Heights, New York)
,
HOENIGSCHMID H
(Infineon Technol. in Hopewell Junction, New York)
,
ROBERTAZZI R
(IBM T.J. Watson Res. Center in Yorktown Heights, New York)
,
GOGL D
(Infineon Technol. in Hopewell Junction, New York)
,
PESAVENTO F
(IBM T.J. Watson Res. Center in Yorktown Heights, New York)
,
LAMMERS S
(Infineon Technol. in Hopewell Junction, New York)
,
LEWIS K
(IBM T.J. Watson Res. Center in Yorktown Heights, New York)
,
SCHEUERLEIN R
(IBM Almaden Res. Center in San Jose, California)
,
MUELLER G
(Infineon Technol. in Hopewell Junction, New York)
資料名:
IEEE Circuits & Devices Magazine
(IEEE Circuits & Devices Magazine)
巻:
18
号:
5
ページ:
17-27
発行年:
2002年09月
JST資料番号:
A0660B
ISSN:
8755-3996
CODEN:
ICSYDV
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)