文献
J-GLOBAL ID:200902111452801718
整理番号:98A0660140
単結晶GaN上に作製した金属-半導体-金属紫外光検出器の総合特性評価
Comprehensive characterization of metal-semiconductor-metal ultraviolet photodetectors fabricated on single-crystal GaN.
著者 (6件):
CARRANO J C
(Univ. Texas at Austin, Texas)
,
LI T
(Univ. Texas at Austin, Texas)
,
GRUDOWSKI P A
(Univ. Texas at Austin, Texas)
,
EITING C J
(Univ. Texas at Austin, Texas)
,
DUPUIS R D
(Univ. Texas at Austin, Texas)
,
CAMPBELL J C
(Univ. Texas at Austin, Texas)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
83
号:
11, Pt.1
ページ:
6148-6160
発行年:
1998年06月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)