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著者 (2件)：
資料名：
巻： 14 号： 1 ページ： 11-14 発行年： 1996年01月
JST資料番号： E0974A ISSN： 1071-1023 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902111501820529
整理番号：96A0277591
スケール参照のために結晶格子を用いた走査型トンネル顕微鏡における試料像の自動補正
Automated calibration of the sample image using crystalline lattice for scale reference in scanning tunneling microscopy.
KAWAKATSU H
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KOUGAMI H
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻： 14 号： 1 ページ： 11-14 発行年： 1996年01月
JST資料番号： E0974A ISSN： 1071-1023 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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