文献
J-GLOBAL ID:200902111761347762
整理番号:03A0024418
微細ピッチ異方性導電性接着剤相互接続における電界効果の下での隣接ジョイント間短絡の研究
Study of short-circuiting between adjacent joints under electric field effects in fine pitch anisotropic conductive adhesive interconnects.
著者 (3件):
CHIU Y W
(City Univ. Hong Kong, Kowloon, HKG)
,
CHAN Y C
(City Univ. Hong Kong, Kowloon, HKG)
,
LUI S M
(Varitronix Ltd., Tseung Kwan O, HKG)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
42
号:
12
ページ:
1945-1951
発行年:
2002年12月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)