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著者 (6件)：
資料名：
巻： 25 号： 9 ページ： 650-659 発行年： 1997年08月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902111940061952
整理番号：97A0820699
層状構造試料のXPS電子テイクオフ角実験の解析モデル 十分に特性化されたLangmuir-Blodgett膜の減衰長の決定
Model for Analysis of XPS Electron Take-off Angle Experiments in Layer-structured Samples: Determination of Attenuation Lengths in a Well-characterized Langmuir-Blodgett Film.
SUZUKI N
(Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN)
,
IIMURA K
(Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN)
,
SATOH S
(Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN)
,
SAITO Y
(Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN)
,
KATO T
(Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN)
,
TANAKA A
(ULVAC-PHI, Inc., Chigasaki, JPN)
資料名：
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻： 25 号： 9 ページ： 650-659 発行年： 1997年08月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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