文献
J-GLOBAL ID:200902113229183010
整理番号:94A0168128
神経回路網分類器の集積化によって印刷回路板のX線検査を改善
Improving X-Ray Inspection of Printed Circuit Boards by Integration of Neural Network Classifiers.
著者 (2件):
NEUBAUER C
(Fraunhofer Inst. Integrated Circuits, Erlangen, DEU)
,
HANKE R
(Fraunhofer Inst. Integrated Circuits, Erlangen, DEU)
資料名:
Proceedings. IEEE/CPMT International Electronics Manufacturing Technology Symosium
(Proceedings. IEEE/CPMT International Electronics Manufacturing Technology Symosium)
巻:
15th
ページ:
14-18
発行年:
1993年
JST資料番号:
T0858A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)