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文献
J-GLOBAL ID:200902113229183010   整理番号:94A0168128

神経回路網分類器の集積化によって印刷回路板のX線検査を改善

Improving X-Ray Inspection of Printed Circuit Boards by Integration of Neural Network Classifiers.
著者 (2件):
NEUBAUER C
(Fraunhofer Inst. Integrated Circuits, Erlangen, DEU)
HANKE R
(Fraunhofer Inst. Integrated Circuits, Erlangen, DEU)

資料名:
Proceedings. IEEE/CPMT International Electronics Manufacturing Technology Symosium  (Proceedings. IEEE/CPMT International Electronics Manufacturing Technology Symosium)

巻: 15th  ページ: 14-18  発行年: 1993年 
JST資料番号: T0858A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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