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著者 (3件)：
資料名：
巻： 36 ページ： 257-262 発行年： 1993年
JST資料番号： H0119C 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902113677465264
整理番号：93A0902609
臨界取出角蛍光X線検出による表面層分析
Near-surface-layer analysis by critical takeoff-angle X-ray fluorescence detection.
HAYAKAWA S
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
SASAKI S
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
GOHSHI Y
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
Advances in X-Ray Analysis
(Advances in X-Ray Analysis)
巻： 36 ページ： 257-262 発行年： 1993年
JST資料番号： H0119C 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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