文献
J-GLOBAL ID:200902114568855989
整理番号:99A0966207
トレンチからの横方向被覆成長によるGaN薄膜中の転位の減少
Dislocation reduction in GaN thin films via lateral overgrowth from trenches.
著者 (6件):
CHEN Y
(Hewlett-Packard Co., California)
,
SCHNEIDER R
(Hewlett-Packard Co., California)
,
WANG S Y
(Hewlett-Packard Co., California)
,
KERN R S
(Hewlett-Packard Co., California)
,
CHEN C H
(Hewlett-Packard Co., California)
,
KUO C P
(Hewlett-Packard Co., California)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
75
号:
14
ページ:
2062-2063
発行年:
1999年10月04日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)