文献
J-GLOBAL ID:200902114700199840
整理番号:94A0869306
低温成長GaAsエピタキシャル膜の分光特性評価
Spectroscopic Characterization of Low-Temperature Grown GaAs Epitaxial Films.
著者 (9件):
TANI M
(Kansai Advanced Research Center, Hyogo)
,
SAKAI K
(Kansai Advanced Research Center, Hyogo)
,
ABE H
(Osaka Univ., Osaka)
,
NAKASHIMA S
(Osaka Univ., Osaka)
,
HARIMA H
(Osaka Univ., Osaka)
,
HANGYO M
(Osaka Univ., Osaka)
,
TOKUDA Y
(MITSUBISHI Electric Corp., Hyogo)
,
KANAMOTO K
(MITSUBISHI Electric Corp., Hyogo)
,
TSUKADA N
(MITSUBISHI Electric Corp., Hyogo)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
33
号:
9A
ページ:
4807-4811
発行年:
1994年09月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)