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著者 (3件)：
資料名：
巻： 36 号： 5B ページ： 3152-3156 発行年： 1997年05月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902114763124891
整理番号：97A0631940
集中定数共振器プローブを用いた走査型非線形誘電率顕微鏡と強誘電分極分布測定への応用
Scanning Nonlinear Dielectric Microscope Using a Lumped Constant Resonator Probe and Its Application to Investigation of Ferroelectric Polarization Distributions.
CHO Y
(Yamaguchi Univ., Ube, JPN)
,
ATSUMI S
(Yamaguchi Univ., Ube, JPN)
,
NAKAMURA K
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 36 号： 5B ページ： 3152-3156 発行年： 1997年05月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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