文献
J-GLOBAL ID:200902114939660159
整理番号:00A0908543
Structurally variable cyclopolymers with excellent etch resistance and their application to 193nm lithography.
著者 (4件):
KLOPP J M
(Univ. California, CA)
,
PASINI D
(Univ. California, CA)
,
FRECHET J M J
(Univ. California, CA)
,
BYERS J D
(International SEMATECH, TX)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
3999
号:
Pt.1
ページ:
23-30
発行年:
2000年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)