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資料名：
巻： 89 号： 12 ページ： 8336-8338 発行年： 2001年06月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902114968725995
整理番号：01A0743392
極めて薄いSiO2膜における降伏前漏れ電流のキャリア分離測定
Carrier separation measurement of leakage current under prebreakdown in ultrathin SiO2 films.
UNO S
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
ISHIDA A
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
DEGUCHI K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KAMAKURA Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TANIGUCHI K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 89 号： 12 ページ： 8336-8338 発行年： 2001年06月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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